인덕터 코어 손실의 원인

칩 인덕터 코어의 손실은 주로 코어 손실과 코일 손실에 기인하며,이 두 가지 측면에서의 손실 크기는 회로 모드에 따라 달라질 필요가있다. 그 중에서도 코어 손실은 주로 코어 물질의 교류 자기장에 의해 발생하며, 이로 인해 발생하는 손실은 작동 주파수 및 총 플럭스 스윙 (ΔB)의 함수이며, 이는 실질적인 전도 손실을 크게 줄입니다. 코일 손실은 자기 에너지의 변화로 인한 에너지 손실로 인하여 전력 인덕터 전류가 감소 할 때 자기장의 강도가 감소합니다.
손실을 줄이기위한 유도 성 코어 :
인덕터 코어에서 발생하는 코어 손실은 인덕터 코어 손실이 증가함에 따라 허용 가능한 구리 손실을 감소 시키며, 또한 대략 동일한 플럭스 코어 물질 플럭스 서지를 가져올 것이다. 따라서 스위칭 주파수가 500kHz를 초과하면 인덕터 코어 손실과 권선 AC 손실로 인해 인덕터에서 허용되는 DC 전류가 크게 감소 할 수있다.
2. 코일의 인덕터 코어 손실은 주로 구리 와이어의 손실로 나타납니다. 따라서 구리선의 손실을 줄이려면 인덕터 코어의 손실이 증가 할 때 감소시켜야하며, 손실이 동일해질 때까지 손실은 동일해야합니다. 가장 좋은 경우는 고주파에서 손실이 안정적이며 자기 구조에서 최대 출력 전류를 허용한다는 것입니다.

자세한 내용은 sales@xfullstar.com으로 문의하십시오.